【中國科學家實現1.36公里外毫米級高分辨成像技術】5月12

【中國科學家實現1.36公里外毫米級高分辨成像技術】5月12日訊,記者12日從中國科學技術大學獲悉,該校潘建偉、張強、徐飛虎等人聯合中國科學院西安光學精密機械研究所等國內外科研機構,首次提出並實驗驗證了主動光學強度干涉技術合成孔徑技術,實現了對1.36公里外毫米級目標的高分辨成像。實驗系統的成像分辨率較干涉儀中的單臺望遠鏡提升約14倍。相關成果日前發表於國際權威學術期刊《物理評論快報》。(新華社)
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